20/30 PV 多用途顯微光譜儀

美國CRAIC公司最新研發的20/30 PV光譜儀集成系統為紫外-可見-近紅外顯微光譜學設定了一個新的標準。使用最前沿技術的20/30 PV不僅可以讓用戶測試微米級樣品的吸收、反射、拉曼、螢光激發或其他光源類型下的光譜,還同時提供了數位成像功能。光譜測試的範圍從深紫外到近紅外,同時也提供全波段的成像。具備先進的光譜及圖像分析軟體、自動化的參數設置、簡單易用、能長時間穩定工作等優良特性。20/30 PV是工廠產品檢測以及實驗室樣品分析的完美工具。

目前CRAIC系列分光光度計已用於煤炭,石油,地質,礦物學,生物學,半導體科學,光電行業面板量測,材料科學,工業品質控制及刑事鑑定科學、紡織行業等。

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多用途顯微光譜儀
可量測穿透、反射、螢光、拉曼等光譜

可依需求客製化
Types of Microspectroscopy UV-vis-NIR absorbance, reflectance, fluorescence, photoluminescence, polarisation
Raman Microspectroscopy Apollo II™
Thin Film Thickness Film thickness ranges from 15 nm and up
Micro-kinetics Available
5D Mapping Available
Micro-colorimetry Available
Microspectometer Spectral Range 200 - 2500 nm
Microscope Imaging Range Deep ultraviolet,  color and near infra-red
Fluorescence Excitation 250 - 546 nm
Fluorescence Emission 300 - 1000 nm
Spectrometer Model Lightblades™
Detectors Scientific grade CCD and InGaAs arrays
Detector Cooling Thermoelectric
Spectral Resolution User selectable, 1 - 15 nm
Sampling Area Variable, 1 - 10,000 microns2
Operating System Windows